Представлены экспериментальные результаты влияния геттерирования пленкой халькогенидного стекла Ge28Sb12Se60 на выход годных диодных структур. Приведены технологические режимы проведения процесса геттерирования пленкой халькогенидного стекла примесей на поверхности диодных структур. Рассмотрены механизмы воздействия процесса геттерирования на обратные токи диода.